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日立離子研磨裝置I

產(chǎn)品時(shí)間:2024-06-02

訪問(wèn)次數(shù):1165

簡(jiǎn)要描述:

日立離子研磨裝置I
混合模式:兩種研磨配置
斷面加工:將樣品斷面研磨光滑,便于表面高分辨觀察
平面研磨:不同角度有選擇地,大面積,均勻地研磨5 mm的平面,以突顯樣品的表面特性
高效:提高加工效率
與之前的E-3500型相比,采用新型離子槍設(shè)計(jì),減少了橫截面研磨時(shí)間
(參考加工速度:硅材質(zhì)為300 μm/h - 加工時(shí)間減少了66%)

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日立離子研磨裝置IM4000 II



日立離子研磨裝置IM4000 II 具有斷面加工和平面研磨功能的混合儀器!

  • 日立高新離子研磨裝置IM4000(HITACHI Ion Milling System IM4000  )混合模式帶有兩種研磨配置:
    斷面加工:將樣品斷面研磨光滑,便于表面以下結(jié)構(gòu)高分辨成像。
    平面研磨:將樣品表面均勻研磨5平方毫米,從不同角度有選擇地研磨,以便突出樣品的表面特性。

  • 日立高新離子研磨裝置IM4000(HITACHI Ion Milling System IM4000  )高通量能提高加工效率:
        與之前的E-3500型相比,采用新型離子槍設(shè)計(jì),減少了橫截面研磨時(shí)間。
    (參考加工速率:硅元素為300微米/小時(shí) — 加工時(shí)間減少了66%。

  • 日立高新離子研磨裝置IM4000(HITACHI Ion Milling System IM4000  )可拆卸樣品臺(tái)裝置:

    為便于樣品設(shè)置和定義研磨邊緣,可將樣品臺(tái)裝置拆卸。


特點(diǎn)


  • 混合模式:兩種研磨配置
    斷面加工:將樣品斷面研磨光滑,便于表面高分辨觀察
    平面研磨:不同角度有選擇地,大面積,均勻地研磨5 mm的平面,以突顯樣品的表面特性

  • 高效:提高加工效率
    與之前的E-3500型相比,采用新型離子槍設(shè)計(jì),減少了橫截面研磨時(shí)間
    (參考加工速度:硅材質(zhì)為300 μm/h - 加工時(shí)間減少了66%)

  • 可拆卸式樣品臺(tái):
    為便于樣品設(shè)置和邊緣研磨,樣品臺(tái)設(shè)計(jì)為可拆卸型

日立科學(xué)儀器(北京)有限公司為您提供日立離子研磨裝置IM4000 II的參數(shù)、價(jià)格、型號(hào)、原理等信息,日立離子研磨裝置IM4000 II產(chǎn)地為日本、品牌為日立,型號(hào)為IM4000 II,價(jià)格為面議,更多相關(guān)信息可,公司客服電話7*24小時(shí)為您服務(wù)


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