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反射/透射/薄膜厚度測量系統

產品時間：2024-06-01

訪問次數：589

簡要描述：

日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測量系統F10-RT
主要特點
集成測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統
光譜范圍廣，可選擇多種光源
反射率和透射率同時測量，膜厚、折射率和可用分析能力消光系數
標準維護時間記錄的相機測量位置
放個樣品就行了。無需調整光學系統，設置非常簡單

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日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測量系統F10-RT

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F10-RT 是一款集成了測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統。可同時測量反射率和透射率，并可輕松分析膜厚、折射率和消光系數。
只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接，無需調整光學系統，無需復雜的設置，而且設置非常簡單。

主要特點

  • 集成測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統
    光譜范圍廣，可選擇多種光源

  • 反射率和透射率同時測量，膜厚、折射率和可用分析能力消光系數
    標準維護時間記錄的相機測量位置

  • 放個樣品就行了。無需調整光學系統，設置非常簡單

主要應用

 

平板光學鍍膜薄膜太陽能電池
聚酰亞胺、ITO、抗蝕劑、氧化膜、抗反射涂層、PET和玻璃基板上的各種光學膜
玻璃、眼鏡、鏡片等的硬質涂層。
CdTe、CIGS、非晶硅等

產品陣容

 

 模型

 F10-RT

-紫外線

 F10-RT

 F10-RT

-近紅外

 F10-RT

　-近紅外

 F10-RT

　-UVX

測量波長

范圍

膜厚測量

范圍

性

光源






 190 – 1100nm380 – 1050nm 950 – 1700nm 380 – 1050nm380 – 1050nm
 1nm – 40μm15nm – 70μm 100nm – 150μm 15nm – 150μm1nm – 150μm
± 0.2% 薄膜厚度± 0.4% 薄膜厚度± 0.2% 薄膜厚度
1納米2納米3納米2納米1納米

氘·

鹵素

鹵素

氘·

鹵素

 

測量示例

 

平板中使用的透明電極ITO的膜厚和折射率的測定例
同時測定反射率和透射率。薄膜厚度分析 FIL Measure 軟件可即時分析薄膜厚度、折射率等。


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